高温高湿PID测试系统技术参数

本公司研发光伏组件测试系统 PID（ZWPID08）根据 IEC 82/685/NP：System voltage durability test for crystalline silicon modules，基本要求是准备 3 块组件。其中一块作为控制组件，组件置于一定 温度和湿度的环境中，将组件的内部导电体与高压电源的一个极连在一起，组件外导电体与高压电源的另 一极连在一起。一块组件在正偏压下进行老化，一块组件在负偏压下老化

测试条件如下：

环境温度：60℃±2℃；

环境湿度：85%±5% RH；

测试时间：96 小时；

测试电压：在组件需满足的正系统电压下或负系统电压下。

技术参数 ：

1 高压电源（正向）

电压：

 测试范围：0-1500V；

 测试精度：0.5%FS

 分辨率：1V

电流：

 测试范围：0-1000uA；

 测试精度：0.5%FS

2 高压电源（负向）

电压：

 测试范围：0--1500V；

 测试精度：0.5%FS

 分辨率：1V 电流：

 测试范围：0-1000uA；

 测试精度：0.5%FS

 分辨率： 1uA

 分辨率： 1uA